圖像分析型粒度分布測(cè)量軟件 Mac-View第五版本的特點(diǎn)

發(fā)布時(shí)間：2022-06-06　點(diǎn)擊量：3039

圖像分析型粒度分布測(cè)量軟件 Mac-View第五版本的特點(diǎn)

結(jié)合各種識(shí)別工具，實(shí)現(xiàn)對(duì)所有粒子的測(cè)量和分析

通過讀取 SEM 或 TEM 拍攝的圖像并識(shí)別目標(biāo)顆粒，自動(dòng)計(jì)算粒徑分布并量化顆粒形狀。
通過使用手寫板的手動(dòng)分析工具，可以輕松識(shí)別形狀復(fù)雜的顆粒和聚集顆粒。

Mac-View Version.5 的新功能和改進(jìn)

-粒子采集模式新增“針狀”

?提高自動(dòng)識(shí)別處理速度
?提高自動(dòng)識(shí)別精度
?符合JIS8827-1（2018）

■ 聚集粒子的一次粒徑分析

可以評(píng)價(jià)凝集粒子的一次粒徑，這在過去是困難的。

■ 納米粒子的評(píng)價(jià)

只要有尺度信息，無論粒度如何，都可以進(jìn)行分析。

■ 多方面的分析/評(píng)估

可以自動(dòng)測(cè)量粒度分布并分析顆粒形狀（圓形度、縱橫比等）。此外，可用數(shù)據(jù)豐富，可以評(píng)估聚集粒子的初級(jí)粒子。

■ 操作簡單

無需專業(yè)知識(shí)，操作簡單，工人的熟練程度無關(guān)緊要。

■ 無需昂貴的資本投資

只要您準(zhǔn)備好圖像（jpeg、位圖），您就可以在 PC 上安裝軟件后立即使用它。

納米粒子、聚集粒子、粒狀體、燒結(jié)體截面、乳化粒徑等

■ 粉體分析綜合軟件Mac-PIAS

Mac-PIAS是一款全新維度的綜合粉體分析軟件，可以對(duì)任何方法測(cè)得的“粒度分布數(shù)據(jù)”進(jìn)行集中管理和分析。

■ 篩分試驗(yàn)數(shù)據(jù)分析軟件Macmesh

Macmesh 是一款通過大量數(shù)據(jù)消除篩選測(cè)試中的人為錯(cuò)誤并高效工作的工具。

測(cè)量功能	面積/周長/大徑/小徑/最大長度/最小長度/海伍德直徑/圓周圓當(dāng)量直徑/圓度系數(shù)/縱橫比/形狀系數(shù)1-3/費(fèi)雷特直徑/馬丁直徑/克魯姆拜因直徑/雙軸平均直徑，雙軸幾何平均直徑、雙軸協(xié)調(diào)平均直徑、長度等
分析功能	粒度% ? ON / PASS 分析 ? 體積/數(shù)量/長度轉(zhuǎn)換 ? 峰值數(shù)據(jù)分析 ? 匯總數(shù)據(jù)分析 ? 粒度分類轉(zhuǎn)換 ? 篩分垂直轉(zhuǎn)換 ? 形狀系數(shù)分析 ? 數(shù)據(jù)合成 ? 數(shù)據(jù)分組
其他功能	各種圖形顯示功能、各種打印輸出功能、文本輸出功能、圖像輸出功能等。
操作環(huán)境	● PC/AT 兼容機(jī)運(yùn)行Microsoft Windows 7/8/10（同時(shí)兼容32/64bit） *如果您使用的是Windows 7/8，請(qǐng)通過Windows Update 安裝新的更新程序。 ● 用于許可證驗(yàn)證的USB 硬件配備可用于加密的USB 端口（必需） ● 連接掃描儀（兼容TWAIN）和可選的液晶數(shù)位板時(shí)，需要USB 端口等接口 ● 顯示器：顯示高達(dá)全高清分辨率（1,920 x 1,080） ● CPU：根據(jù)操作系統(tǒng)所需的試用版（1 GHz 或更高的 CPU） ● 內(nèi)存：建議 2GB 或更多 ● 至少需要 200MB 的可用空間內(nèi)置硬盤 ● 安裝有時(shí)需要光驅(qū)
對(duì)應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)	基于 JIS Z 8827-1